https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/48086| Title: | Тест износоустойчивости энергонезависимой памяти микроконтроллеров |
| Authors: | Трапашко, И. И. Деменковец, Д. В. |
| Keywords: | материалы конференций;микроконтроллеры;энергозависимая память;flash-память |
| Issue Date: | 2022 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Трапашко, И. И. Тест износоустойчивости энергонезависимой памяти микроконтроллеров / Трапашко И. И., Деменковец Д. В. // Компьютерные системы и сети : сборник статей 58-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 18–22 апреля 2022 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2022. – С. 29–31. |
| Abstract: | В работе приводятся краткие сведения об энергонезависимой памяти микроконтроллеров STM32F103C8T6 и ATmega328P, приведены результаты тестов износоустойчивости, включая коэффициент запаса и описание возникших ошибок. Описан алгоритм уменьшения износа памяти. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/48086 |
| Appears in Collections: | Компьютерные системы и сети : материалы 58-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов : сборник статей (2022) |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Trapashko_Test.pdf | 491.08 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.