Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/5114
Title: Статистический анализ и оптимизация технологии изготовления интегральных микросхем методом поверхности откликов
Other Titles: Statistical analysis and optimization of integrated circuit technology using response surface methodology
Authors: Стемницкий, В.В.
Keywords: статистический анализ;технологические параметры ИМС;планирование эксперимента;аппроксимация;оптимизация;проектирование на технологичность
Issue Date: 2004
Publisher: БГУИР
Citation: Стемницкий, В. В. Статистический анализ и оптимизация технологии изготовления интегральных микросхем методом поверхности откликов: автореф. дисс. ... кандидата технических наук : 05.27.01 / В. В. Стемницкий; науч. рук. В. В. Николаев. - Мн.: БГУИР, 2004. - 21 с.
Abstract: Целью работы является разработка методов, алгоритмов и программного обеспечения для статистического анализа и оптимизации технологии ИМС, в том числе для проектирования в сети Интернет.
Alternative abstract: The aim of the work is the development of methods, algorithms and software for statistical analysis and optimization of integrated circuit (IC) technology including design via Internet.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/5114
Appears in Collections:05.27.01 Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Стемпицкий.pdf1.31 MBAdobe PDFView/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.