| Title: | Модели неисправностей взаимного влияния оперативных запоминающих устройств |
| Authors: | Деменковец, Д. В. |
| Keywords: | материалы конференций;математических модели;запоминающие устройства;полупроводниковая память;вычислительные системы |
| Issue Date: | 2025 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Деменковец, Д. В. Модели неисправностей взаимного влияния оперативных запоминающих устройств / Д. В. Деменковец // Компьютерные системы и сети : материалы 61-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 22–26 апреля 2025 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2025. – C. 608–609. |
| Abstract: | В работе представлены описания математических моделей неисправностей взаимного влияния ОЗУ в которой учувствуют две
ячейки памяти. Также описывается характерное поведение ячеек памяти при данных неисправностях. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/60330 |
| Appears in Collections: | Компьютерные системы и сети : материалы 61-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов : сборник статей (2025)
|
