Skip navigation

Browsing by Subject микроэлектроника

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
 
Showing results 24 to 43 of 119 < previous   next >
Issue DateTitleAuthor(s)
2020Лабораторный макет по определению коэффициента теплопроводности проводниковПрудник, М. Ф.
2024Материалы и компоненты электронной техники. Лабораторный практикум : пособиеУткина, Е. А.; Шульгов, В. В.
2010Металлизация микроэлектромеханических систем на основе бинарных и тройных сплавов алюминияЧерных, А. Г.; Кирия, Л. Т.; Ковриго, В. М.; Тымощик, А. С.
2021Метод контроля размеров микроэлектронных структур на основе микроскопии ГУФ диапазонаСербин, И. И.
2003Методические указания к лабораторным работам на ПЭВМ по курсу «Основы проектирования СВЧ интегральных схем» для студентов специальности «Микроэлектроника» дневной формы обученияПопкова, Т. Л.
2002Методы автоматического контроля топологии планарных структур и их реализация в электронном машиностроенииАваков, С. М.
2015Методы реализации удаленного доступа к системам компьютерного проектирования в микроэлектроникеСтемпицкий, В. Р.; Найбук, М. Н.
2005Микроэлектроника : метод. указания, программа и контр. задания для студентов специальности «Микро- и наноэлектр. технологии и системы» заоч. формы обученияСтешенко, П. П.; Шульгов, В. В.
2011Микроэлектроника и микросхемотехника : лаборатор. практикум по курсу «Микроэлектроника и микросхемотехника» для студентов специальности 1-36 04 02 «Промышленная электроника» всех форм обученияГранько, С. В.
2013Миниатюрный топливный элемент, батарея на основе миниатюрных топливных элементов и способы их изготовленияБондаренко, В. П.; Холостов, К. И.; Клышко, А. А.; Чубенко, Е. Б.
2015Моделирование смещения коаксиально-микрополосковыого перехода (КМПП) относительно центра микрополоскаБоженков, В. В.; Душевин, А. А.; Кудрицкая, Е. А.; Bazhankov, V. V.; Dushvin, A. A.; Kudrytskya, A. A.
2017Научные основы перехода от микро– к наноэлектроникеЛабунов, В. А.
2011Обеспечение устойчивости к лавинному пробою мощных кремниевых МОП-транзисторов с канавочным затворомКотов, В. С.; Токарев, В. В.; Борисенко, В. Е.
2021Оптическая система ГУФ диапазона для инспекционного микроскопаСербин, И. Н.
2019Организация работы кружка технического творчества при лабораторииПрудник, М. Ф.
2016Основы моделирования элементов микро- и наноэлектроникиАбрамов, И. И.
2008Основы САПР в микроэлектронике : учебное пособиеНелаев, В. В.; Стемпицкий, В. Р.
2004Особенности микроструктуры и электрические характеристики тонких пленок серебра с вольфрамом, полученных химическим осаждениемБогуш, В. А.
2010Особенности организации инновационной деятельности микроэлектронной отрасли в современных условияхАрхипова, Л. И.; Гранько, С. В.
2023Особенности подготовки квалифицированных специалистов для микроэлектронной отраслиШаталова, В. В.