| Issue Date | Title | Author(s) |
| 2008 | Влияние процесса оплавления легкоплавких стекол на их зарядовые свойства и перераспределение примеси в ионно-легированных слоях | Вечер, Д. В.; Пилипенко, В. А.; Горушко, В. А.; Сякерский, В. С.; Петлицкая, Т. В. |
| 2016 | Влияние теплового режима на надежность и параметры полупроводниковых и интегральных схем приборов | Атаев, А. |
| 2015 | Внутренние элементы защиты интегральных схем от воздействия электростатических разрядов | Быковский, С. И.; Шинтар, А. В.; Пискун, Г. А.; Алексеев, В. Ф. |
| 2018 | Воздействие разрядов статического электричества на полупроводниковые структуры и интегральные схемы | Алексеев, В. Ф.; Пискун, Г. А.; Лисовский, А. А. |
| 2013 | Моделирование воздействия электростатического разряда на полупроводниковые приборы радиоэлектронных средств: отчет о НИР (заключ.) | Пискун, Г. А. |
| 2015 | Нечеткая нейронная сеть для анализа топологии интегральных микросхем | Дудкин, А. А. |
| 2012 | Определение коэффициентов чувствительности выходных параметров интегральных схем к внутренним дефектам | Белоус, А. И.; Прибыльский, А. В. |
| 2018 | Программный комплекс управления оборудованием контроля критических размеров на базе систем машинного зрения | Аваков, С. М.; Воронов, А. А.; Ганченко, В. В.; Дудкин, А. А.; Дедков, А. И.; Шоломицкий, В. Г. |
| 2018 | Распределение температуры в токоведущих элементах интегральных схем при воздействии электромагнитного импульса длительностью до 2-х наносекунд | Пискун, Г. А.; Алексеев, В. Ф.; Денисов, А. А. |
| 2014 | Ускоренные испытания интегральных схем как способ прогнозирования долговечности средств медицинской электроники | Алексеев, В. Ф.; Пискун, Г. А.; Богатко, И. Н. |
