| Issue Date | Title | Author(s) |
| 2016 | Models describing the degradation of functional parameters of electronic devices based on the Weibull-Gnedenko distribution | Borovikov, S. M.; Shneiderov, E. N.; Burak, I. A. |
| 2016 | Models describing the degradation of functional parameters of electronic devices based on the Weibull–Gnedenko distribution | Borovikov, S. M.; Shneiderov, E. N.; Burak, I. A. |
| 2021 | Simulation of radiation damage of the semiconductor devices | Miskiewicz, S.; Komarov, A.; Komarov, F.; Yuvchenko, V.; Zayats, G. |
| 2021 | Измерение тепловых сопротивлений силовых полупроводниковых приборов | Герман, Е. В.; Гармилин, Е. В. |
| 2020 | Индивидуальное прогнозирование надежности биполярных транзисторов с использованием электрического напряжения в качестве имитационного фактора | Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Бересневич, А. И.; Казючиц, В. О. |
| 2021 | Индивидуальное прогнозирование надежности транзисторов большой мощности для электронных устройств медицинского назначения | Боровиков, С. М.; Казючиц, В. О. |
| 2022 | Использование языка Python для автоматизации процесса получения моделей прогнозирования надёжности выборок полупроводниковых приборов | Кравец, Р. А.; Бараш, К. С.; Карачун, М. Д. |
| 2021 | Модернизация метода тестирования мощной интегральной микросхемы или полупроводникового прибора в диапазоне температур | Ефименко, С. А.; Кособуцкая, Н. В.; Efimenko, S. A.; Kosobutskaya, N. V. |
| 2022 | Некоторые подходы к обработке больших объёмов экспериментальных данных, получаемых при испытании выборок полупроводниковых приборов | Казючиц, В. О.; Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Жданович, В. П. |
| 2022 | Определение теплового сопротивления кристалл-корпус мощных полупроводниковых приборов по косвенным признакам с использованием уравнения регрессии | Казючиц, В. О. |
| 2021 | Проблема отвода тепла силовых полупроводниковых приборов и интегральных микросхем | Гармилин, Е. В.; Рыляков, А. В.; Герман, Е. В. |
| 2021 | Решение проблемы отвода тепла при корпусировании полупроводниковых приборов и микросхем | Герман, Е. В.; Гармилин, Е. В. |
| 2020 | Технологии Big Data при анализе результатов ускоренных испытаний полупроводниковых приборов на надёжность | Казючиц, В. О.; Боровиков, С. М. |
| 2022 | Ускоренные испытания биполярных транзисторов большой мощности на длительную наработку | Калита, Е. В.; Казючиц, В. О. |
| 2018 | Эффективность моделей деградации функциональных параметров при прогнозировании параметрической надежности полупроводниковых приборов. | Боровиков, С. М.; Цырельчук, Н. И.; Дик, С. С.; Шнейдеров, Е. Н. |
