Skip navigation

Browsing by Author Чигирь, Г. Г.

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
 
Showing results 1 to 5 of 5
Issue DateTitleAuthor(s)
2018Анализ дефектов интегральных схем с использованием растро-вого электронного микроскопа в режиме наведенного токаСолодуха ., В. А.; Шведов, С. В.; Петлицкий, А. Н.; Петлицкая, Т. В.; Чигирь, Г. Г.; Пилипенко, В. А.; Филипеня, В. А.; Жигулин, Д. В.; Уситименко, Д. С.
2005Анализ элементной базы систем защиты информации в государственном центре "Белмикроанализ"Емельянов, В. А.; Пономарь, В. Н.; Чигирь, Г. Г.; Ухов, В. А.
2018Оперативный анализ загрязнений кремниевых пластин рекомбинационно-активными примесями в производстве интегральных микросхемСолодуха, В. А.; Шведов, С. В.; Чигирь, Г. Г.; Петлицкий, А. Н.; Пилипенко, В. А.; Ковальчук, Н. С.; Петлицкая, Т. В.; Филипеня, В. А.; Солодуха, В. А.
2005Цифровая оптическая микроскопия в производстве элементной базы для систем защиты информацииЕмельянов, В. А.; Пономарь, В. Н.; Чигирь, Г. Г.
2018Экспрессный контроль надежности подзатворного диэлектрика интегральных микросхем по величине пробивного напряжения при разных скоростях разверткиСолодуха, В. А.; Шведов, С. В.; Ковальчук, Н. С.; Чигирь, Г. Г.; Петлицкий, А. Н.