Skip navigation

Browsing by Author Волкенштейн, С. С.

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
or enter first few letters:  
Showing results 1 to 10 of 10
Issue DateTitleAuthor(s)
2017Анализ и доработка проекта СТБ/ОО «переключатели типа тумблер». Общие технические условияЗаика, В. С.; Волкенштейн, С. С.; Хмыль, А. А.
2011Анализ эксплуатационной надежности резервируемых изделий микроэлектроникиВертинский, Ю. Ф.; Волкенштейн, С. С.; Хмыль, А. А.
2010Контроль качества и диагностика неразъемных соединений на печатных платахВолкенштейн, С. С.; Ланин, В. Л.; Хмыль, А. А.
2018Корреляционный анализ контактного и бесконтактного методов неразрушающего контроляВолкенштейн, С. С.; Антончик, Л. С.; Дайняк, И. В.; Хмыль, А. А.
2010Методы контроля и диагностики скрытых дефектов в изделиях электроникиЛанин, В. Л.; Волкенштейн, С. С.; Хмыль, А. А.
2009Монтаж ленточными перемычками мощных полупроводниковых приборовЛанин, В. Л.; Волкенштейн, С. С.; Петухов, И. Б.; Хмыль, А. А.
2017Повышение надежности мощных транзисторов при циклическом воздействии температурыВолкенштейн, С. С.; Солодуха, В. А.; Соловьев, Я. А.; Керенцев, А. Ф.; Хмыль, А. А.
2014Повышение надежности транзисторов в металлокерамических микрокорпусахТурцевич, А. С.; Волкенштейн, С. С.; Керенцев, А. Ф.; Хмыль, А. А.
2016Сравнительная оценка альтернативных методов контроля качества и диагностики монтажных конструкций «п/п кристалл – подложка»Волкенштейн, С. С.; Дайняк, И. В.; Хмыль, А. А.
2010Технологические особенности монтажа Flip–ChipЛанин, В. Л.; Петухов, И. Б.; Волкенштейн, С. С.; Барбарчук, Д.