Skip navigation

Browsing by Author Емельянов, А. В.

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
or enter first few letters:  
Showing results 1 to 8 of 8
Issue DateTitleAuthor(s)
2007Влияние режимов формирования полиимидной пленки на электрофизические характеристики многоуровневой металлизации субмикронных БИССенько, С. Ф.; Емельянов, А. В.
2012Информационно-параметрические методы совершенствования технологии производства субмикронных интегральных микросхем с применением тестовых структурЕмельянов, А. В.
2012Информационно-параметрические методы совершенствования технологии производства субмикронных интегральных микросхем с применением тестовых структурЕмельянов, А. В.
2015Конденсатор для интегральной микросхемыХмыль, А. А.; Емельянов, А. В.; Алиева, Н. В.; Емельянов, В. А.; Трусов, В. Л.; Шикуло, В. Е.; Сенько, С. Ф.
2013Конденсатор для интегральных микросхемХмыль, А. А.; Емельянов, А. В.; Алиева, Н. В.; Емельянов, В. А.; Трусов, В. Л.; Шикуло, В. Е.; Сенько, С. Ф.
2006Прогнозирование надежности изделий электронной техники методом пороговой логикиБоровиков, С. М.; Бересневич, А. И.; Хмыль, А. А.; Емельянов, А. В.; Цырельчук, И. Н.
2008Прогнозирование надежности изделий электронной техники на основе математической модели деградации функционального параметраБоровиков, С. М.; Шалак, А. В.; Бересневич, А. И.; Емельянов, А. В.; Шнейдеров, Е. Н.
2015Способ изготовления конденсатора для интегральной микросхемыХмыль, А. А.; Емельянов, А. В.; Алиева, Н. В.; Емельянов, В. А.; Трусов, В. Л.; Шикуло, В. Е.; Сенько, С. Ф.