Skip navigation

Browsing by Author Сенько, С. Ф.

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
or enter first few letters:  
Showing results 1 to 6 of 6
Issue DateTitleAuthor(s)
2007Влияние режимов формирования полиимидной пленки на электрофизические характеристики многоуровневой металлизации субмикронных БИССенько, С. Ф.; Емельянов, А. В.
2018Количественный контроль топографических дефектов полупроводниковых пластин кремнияСенько, С. Ф.; Сенько, А. С.; Зеленин, В. А.
2015Конденсатор для интегральной микросхемыХмыль, А. А.; Емельянов, А. В.; Алиева, Н. В.; Емельянов, В. А.; Трусов, В. Л.; Шикуло, В. Е.; Сенько, С. Ф.
2013Конденсатор для интегральных микросхемХмыль, А. А.; Емельянов, А. В.; Алиева, Н. В.; Емельянов, В. А.; Трусов, В. Л.; Шикуло, В. Е.; Сенько, С. Ф.
2015Способ изготовления конденсатора для интегральной микросхемыХмыль, А. А.; Емельянов, А. В.; Алиева, Н. В.; Емельянов, В. А.; Трусов, В. Л.; Шикуло, В. Е.; Сенько, С. Ф.
2003Цветовая диагностика топографических дефектовСенько, С. Ф.; Сенько, А. С.