| Issue Date | Title | Author(s) |
| 2020 | Деградация характеристик МОП-структур в условиях накопления заряда в подзатворном диэлектрике на основе двуокиси кремния | Писаренко, Н. С. |
| 1987 | Кварцевый генератор | Корзун, А. И.; Шпота, С. Д. |
| 2003 | Методы повышения устойчивости КМОП БИС к внешним воздействиям | Баранов, В. В.; Прибыльский, А. В. |
| 2020 | Моделирование воздействия тяжелой заряженной частицы на электрические характеристики приборной структуры n-моп-транзистора | Ловшенко, И. Ю.; Стемпицкий, В. Р.; Шандарович, В. Т. |
| 2012 | Моделирование сопротивлений исток-сток открытых мощных МОП-транзисторов | Колосницын, Б. С.; Бушковский, М. Д. |
| 2015 | Оптимизация конструктивно-технологических параметров и верификация электрических характеристик МОП-транзистора с 0,35 мкм проектными нормами | Чан, Туан Чунг; Стемпицкий, В. Р.; Сорока, С. А. |
| 2022 | Особенности МОП-транзисторов, как силовых элементов | Бруй, Н. М.; Калита, О. В.; Сыс, А. Д. |
| 2004 | Оценка импульсного локального перегрева в МОП-транзисторе | Алексеев, В. Ф.; Журавлев, В. И. |
| 2019 | Оценка метода тока затвора и анализ закономерностей процессов деградации параметров р-МОП-транзисторов | Бондарев, А. А.; Загорский, А. В. |
| 2018 | Полупроводниковые приборы микро- и наноэлектроники : учебное пособие | Колосницын, Б. С.; Степанов, А. А. |
| 2019 | Применение ускоренных испытаний для анализа деградации параметров n-МОП-транзисторов под воздействием «горячих» носителей | Загорский, А. В. |
| 2023 | Структура GaN транзисторов | Бондарев, А. А. |
| 2005 | Схемотехнические решения импульсной защиты на МОП-транзисторах | Образцов, Н. С.; Макаревич, С. Ю.; Пинаев, А. И. |
