Skip navigation

Browsing by Author Бересневич, А. И.

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я or enter first few letters:  
Showing results 1 to 20 of 33  next >
Issue DateTitleAuthor(s)
2007Выбор параметров электрического режима в качестве имитационных факторов при прогнозировании постепенных отказов биполярных транзисторовБоровиков, С. М.; Бересневич, А. И.; Шалак, А. В.; Будник, А. В.; Borovikov, S. M.; Berasnevich, A. I.; Shalak, A. V.; Budnik, A. V.
2005Выбор имитационных воздействий в задачах прогнозирования постепенных отказов полупроводниковых приборовБересневич, А. И.; Боровиков, С. М.
2021Выбор имитационных факторов для моделирования постепенных отказов биполярных транзисторов большой мощностиКалита, Е. В.; Бересневич, А. И.; Боровиков, С. М.; Borovikov, S. M.
2006Достоверность прогнозирования функциональных параметров полупроводниковых приборов методом имитационных воздействийБоровиков, С. М.; Бересневич, А. И.; Шалак, А. В.; Borovikov, S. M.; Berasnevich, A. I.; Shalak, A. V.
2020Индивидуальное прогнозирование надежности биполярных транзисторов с использованием электрического напряжения в качестве имитационного фактораБоровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Бересневич, А. И.; Казючиц, В. О.; Borovikov, S. M.; Shneiderov, E. N.; Berasnevich, A. I.; Kaziuchyts, V. O.
2012Использование напряжения коллектор–эмиттер в качестве имитационного фактора для прогнозирования постепенных отказов биполярных транзисторовБересневич, А. И.
2016Использование напряжения коллектор–эмиттер в качестве имитационного фактора при прогнозировании постепенных отказов биполярных транзисторовБересневич, А. И.; Станюш, И. П.; Хатьков, А. А.
2013Использование параметров электрического режима биполярных транзисторов в качестве имитационных факторовБересневич, А. И.; Бондаренок, П. А.; Бруй, А. А.
2005Использование параметров электрического режима биполярных транзисторов в качестве имитационных факторовБересневич, А. И.; Боровиков, С. М.; Borovikov, S. M.
2005Использование температуры в качестве имитационного фактора при прогнозировании постепенных отказов полупроводниковых приборовБоровиков, С. М.; Бересневич, А. И.; Borovikov, S. M.; Berasnevich, A. I.
2015Испытания изделий электронной техники на длительную наработкуШнейдеров, Е. Н.; Бурак, И. А.; Бересневич, А. И.; Shneiderov, E. N.
2012Лабораторный практикум с использованием виртуальных объектов и систем по дисциплине «Теоретические основы проектирования электронных систем безопасности»Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Бересневич, А. И.; Цырельчук, И. Н.; Матюшков, В. Е.; Borovikov, S. M.; Shneiderov, E. N.
2011Математические методы в конструировании и технологии радиоэлектронных средств : метод. пособие к практ. занятиям для студентов специальностей «Моделирование и компьютер. проектирование РЭС» и «Проектирование и пр-во РЭС» всех форм обученияБоровиков, С. М.; Бересневич, А. И.; Шнейдеров, Е. Н.; Малышева, Т. В.; Галузо, В. Е.; Borovikov, S. M.; Shneiderov, E. N.
2015Методика прогнозирования надёжности изделий электронной техники по постепенным отказамШнейдеров, Е. Н.; Бурак, И. А.; Бересневич, А. И.; Shneiderov, E. N.
2019Методика прогнозирования параметрической надежности транзисторовБересневич, А. И.
2022Моделирование электрического параметра транзисторов при прогнозировании их надежности методом имитационных воздействийБоровиков, С. М.; Калита, Е. В.; Бересневич, А. И.; Borovikov, S. M.; Kalita, Е.; Berasnevich, A. I.
2008Надёжность радиоэлектронных средств : лаборатор. практикум для студентов специальностей «Техн. обеспечение безопасности» всех форм обученияБоровиков, С. М.; Бересневич, А. И.; Шалак, А. В.; Borovikov, S. M.
2010Оценка ошибок прогнозирования параметрической надёжности изделий электронной техникиБоровиков, С. М.; Бересневич, А. И.; Шалак, А. В.; Шнейдеров, Е. Н.; Borovikov, S. M.; Shneiderov, E. N.
2011Первичные измерительные преобразователи и их применение в системах безопасности. Обеспечение информационной безопасности от утечки по техническим каналам : лаборатор. практикум для студентов специальности 1-38 02 03 «Техн. обеспечение безопасности» всех форм обученияСеренков, В. Ю.; Бересневич, А. И.; Маклюк, В. В.; Пина, А. И.
2010Получение математических моделей функциональных параметров изделий электронной техники в задачах прогнозирования надёжностиШнейдеров, Е. Н.; Бересневич, А. И.; Шалак, А. В.; Бруй, А. А.; Shneiderov, E. N.