Skip navigation

Browsing by Subject микроэлектроника

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
 
Showing results 83 to 102 of 119 < previous   next >
Issue DateTitleAuthor(s)
2018Технологии субмикронных структур микроэлектроникиДостанко, А. П.; Бордусов, С. В.; Голосов, Д. А.; Завадский, С. М.; Колос, В. В.; Купо, А. Н.; Ланин, В. Л.; Лушакова, М. С.; Мадвейко, С. И.; Мельников, С. Н.; Петлицкий, А. Н.; Петухов, И. Б.; Солодуха, В. А.; Телеш, Е. В.
2004Технологическое проектирование интегральных схем. Программа SSuprem 4: учеб. пособие для курсов лекций и лаб. работ по дисц. “Расчет и проектирование элементов интегральных схем и полупроводниковых приборов”, “Основы САПР в микроэлектронике”, “Моделирование технологических процессов микроэлектроники” для студ. спец. 41 01 02 “Микро- и наноэлектронные технологии и системы”, 41 01 03 “Квантовые информационные системы” всех форм обученияНелаев, В. В.; Стемпицкий, В. Р.
2021Технология локальной индукционной пайки с микроконтроллерным управлением термопрофилей нагреваРатников, Е. С.
2021Технология селективного реактивно-ионного травления нитрида кремния к поликристаллическому кремниюЕмельянов, В. В.
2013Траекторное управление координатными системами субмикронного оборудования микроэлектроникиДайняк, И. В.; Жарский, В. В.; Карпович, С. Е.
2015Трехмерное моделирование технологических процессов и приборов микроэлектроникиВолчёк, В. С.
1981Трехуровневый тонкопленочный неполярный конденсаторЛабунов, В. А.; Сокол, В. А.; Можухов, А. А.; Уваров, А. Р.
2021Ультразвуковая микросварка межсоединений с повышенной прочностью в интегральных схемахЛанин, В. Л.; Нгуен Жа Виен
1993Устройство для автоматической настройки избирательного усилителяЛифанов, Д. В.
1981Устройство для анодированияСуходольский, А. М.
1979Устройство для измерения сопротивления проводящих пленокДанилович, Н. И.; Сокол, В. А.; Костюченко, С. А.
1984Устройство для контроля и управления скоростью осаждения и толщиной тонких пленок при напыленииЛабунов, В. А.; Сокол, В. А.; Маев, А. А.; Радионов, А. А.; Еремин, А. П.; Гусев, А. Ф.; Чмель, Е. А.
1981Устройство для контроля подложки микросхемы, преимущественно при анодировании в ванне с электролитомСуходольский, А. М.
1975Устройство для токовой корректировки номиналов тонкопленочных резисторовЛабунов, В. А.; Сокол, В. А.
1973Устройство для юстировки пленочных резисторовЛабунов, В. А.; Сокол, В. А.
1979Устройство корректировки величины сопротивления резисторовЛабунов, В. А.; Сокол, В. А.; Катернога, О. С.; Михайлов, Д. Н.
1979Устройство токовой корректировки величины сопротивления тонкопленочных резисторовЛабунов, В. А.; Сокол, В. А.; Михайлов, Д. Н.
2014Физика и моделирование приборных структур и устройств микро- и наноэлектроникиАбрамов, И. И.
2020Физико-технические основы разработки технологических модулей электронно-оптических систем. Лабораторный практикум. В 2 ч. Ч. 1 : Физико-технические основы процессов электрофизической обработки материалов : пособиеБордусов, С. В.; Лушакова, М. С.; Мадвейко, С. И.; Костюкевич, А. А.; Телеш, Е. В.
2016Физико-химические основы микро- и наноэлектроники. Лабораторный практикум : пособиеДостанко, А. П.; Телеш, Е. В.; Холенков, В. Ф.; Вашуров, А. Ю.