Skip navigation

Browsing by Subject микроэлектроника

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
 
Showing results 100 to 119 of 119 < previous 
Issue DateTitleAuthor(s)
2014Физика и моделирование приборных структур и устройств микро- и наноэлектроникиАбрамов, И. И.
2020Физико-технические основы разработки технологических модулей электронно-оптических систем. Лабораторный практикум. В 2 ч. Ч. 1 : Физико-технические основы процессов электрофизической обработки материалов : пособиеБордусов, С. В.; Лушакова, М. С.; Мадвейко, С. И.; Костюкевич, А. А.; Телеш, Е. В.
2016Физико-химические основы микро- и наноэлектроники. Лабораторный практикум : пособиеДостанко, А. П.; Телеш, Е. В.; Холенков, В. Ф.; Вашуров, А. Ю.
2011Физико-химические основы микроэлектроники и технологии : лаб. практикум для студентов специальности 1 39 02 01 «Моделирование и компьютер. проектирование РЭС» и 1 39 02 02 «Проектирование и пр-во РЭС» всех форм обученияБоднарь, И. В.; Позняк, А. А.
2021Физическое прототипирование микропроцессорных устройствФранцкевич, К. Э.
2011Формирование наноразмерных медных межсоединений элементов интегральных микросхемДубин, В. М.; Борисенко, В. Е.
2022Формирование наноструктурированного алюминия методом электрохимического анодирования в растворе хлорида натрия для использования в микроэлектроникеКазимиров, Н. А.; Томашевич, Л. П.
2005Формирование субмикронных кмоп структур с повышенной точностью критических размеров методами проекционной фотолитографииКоробко, Ю. О.
2023Формирование тонкопленочных покрытий из боросиликатного стеклаЦедрик, Н. В.
2022Формирование функционального слоя интегральной микросхемы реактивно-ионным травлениемЕмельянов, В. В.
2017Формирование функциональных слоев изделий микроэлектроники методом трехмерной печатиГаронин, В. П.; Филатов, С. А.
2021Формирование, структура и оптические свойства текстурированных пленок CaSi на Si(111)Кропачев, О. В.; Чернев, И. М.; Галкин, К. Н.; Алексеев, А. Ю.
2011Экономичный высоковольтный стабилизированный источник питания интегральных микросхемКотов, В. С.; Токарев, В. В.; Севостьянов, А. А.; Борисенко, В. Е.
2016Экспертная система организации, ведения и контроля научной деятельности в области микро- и наноэлектроникиТимошенко, К. А.
2009Экстракция SPICE-параметров c использованием генетических алгоритмовКрасиков, М. Г.
2010Экстракция SPICE-параметров моделей приборов микроэлектроникиКрасиков, М. Г.
2017Электрические характеристики твердотельного вакуумного планарного триодаСтоляр, Н. Ф.; Данилюк, А. Л.; Борисенко, В. Е.
2018Электромагнитная совместимость по кондуктивным помехам зондового технологического оборудования микро- и наноэлектроникиМинченко, В. А.; Карпович, С. Е.; Дик, С. К.; Кекиш, Н. И.
2008Электромеханические переключателиБаранов, И. Л.; Колосницын, Б. С.; Тымощик, А. С.
2011Электрофизические процессы и оборудование в технологии микро– и наноэлектроникиДостанко, А. П.; Русецкий, А. М.; Бордусов, С. В.; Ланин, В. Л.; Ануфриев, Л. П.; Карпович, С. В.; Жарский, В. В.; Плебанович, В. И.; Адамович, А. Л.; Грозберг, Ю. А.; Голосов, Д. А.; Завадский, С. М.; Соловьев, Я. А.; Дайняк, И. В.; Ковальчук, Н. С.; Петухов, И. Б.; Телеш, Е. В.; Мадвейко, С. И.