Skip navigation

Browsing by Author Кабак, Т. В.

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
or enter first few letters:  
Showing results 1 to 5 of 5
Issue DateTitleAuthor(s)
2021Анализ геометрических параметров контактов кремниевой подложки и алюминиевой шины в интегральных микросхемах (ИМС) с использованием микроскопа с фокусированным ионным пучкомКабак, Т. В.; Петлицкая, Т. В.
2021Анализ отказа интегральной микросхемы (ИМС) с использованием микроскопа с фокусированным ионным пучкомКабак, Т. В.
2021Анализ топологии фрагмента сечения интегральной микросхемы (ИМС) с использованием микроскопа с фокусированным ионным пучкомКабак, Т. В.
2021Выявление дефектов интегральной микросхемы (ИМС) посредством ионно-лучевого травленияКабак, Т. В.; Петлицкая, Т. В.
2021Ионно-лучевые технологии как средство анализа топологии интегральной микросхемы (ИМС)Кабак, Т. В.