Skip navigation

Browsing by Author Аваков, С. М.

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я or enter first few letters:  
Showing results 1 to 18 of 18
Issue DateTitleAuthor(s)
2016Image stitching algorithm for description of integrated circuit layoutsAvakow, S. M.; Doudkin, A. A.; Marushko, Ya.; Voronov, A. A.; Аваков, С. М.; Дудкин, А. А.; Воронов, А. А.
2021Software for the design of optical control systems for the manufacture of precision microelectronics equipmentDoudkin, A. A.; Voronov, A. A.; Ganchenko, V. V.; Avakov, S. M.; Дудкин, А. А.; Воронов, А. А.; Ганченко, В. В.; Аваков, С. М.
2018The Impact of ESD on MicrocontrollersPiskun, G. A.; Alexeev, V. F.; Avakow, S. M.; Matyushkov, V. E.; Titko, D. S.; Алексеев, В. Ф.; Пискун, Г. А.; Аваков, С. М.; Матюшков, В. Е.; Титко, Д. С.
2015Автофокусировка в установках автоматического контроля дефектов топологического рисунка фотошаблонов и полупроводниковых пластинАваков, С. М.; Безлюдов, А. В.; Гайков, Н. И.; Ланин, В. Л.; Огер, В. П.; Титко, Д. С.; Трапашко, Г. А.; Avakow, S. M.; Bezludov, A. V.; Gaikov, N. I.; Lanin, V. L.; Oher, V. P.; Titko, D. S.; Trapashko, G. A.
2020Инновационные технологии и оборудование субмикронной электроникиДостанко, А. П.; Аваков, С. М.; Голосов, Д. А.; Емельянов, В. В.; Завадский, С. М.; Колос, В. В.; Ланин, В. Л.; Мадвейко, С. И.; Мельников, С. Н.; Никитюк, Ю. В.; Петлицкий, А. Н.; Петухов, И. Б.; Пилипенко, В. А.; Плебанович, В. И.; Солодуха, В. А.; Соколов, С. И.; Телеш, Е. В.; Шершнев, Е. Б.
2007Компьютерное моделирование системы управления планарным приводом прямого действияАгранович, А. А.; Жарский, В. В.; Огер, В. П.; Аваков, С. М.
2012Координатные системы высокого разрешения на основе электропривода прямого действия. Лабораторный практикум : пособиеАваков, С. М.; Огер, В. П.; Жарский, В. В.; Русецкий, А. М.; Гуревич, О. В.
2016Корреляционный алгоритм совмещения кадров при построении полного изображенияАваков, С. М.; Воронов, А. А.
2007Методика определения способности обнаружения изолированных дефектов при автоматическом контроле оригиналов топологии на фотошаблонах методом сравнения с проектными даннымиАваков, С. М.
2002Методы автоматического контроля топологии планарных структур и их реализация в электронном машиностроенииАваков, С. М.
2021Обобщенная архитектура программного комплекса управления оборудованием контроля критических размеров на базе систем машинного зренияАваков, С. М.; Дудкин, А. А.; Воронов, А. А.; Ганченко, В. В.; Рымко, В. М.; Шоломицкий, В. Г.; Avakov, S.; Voronov, А.; Doudkin, A.; Ganchenko, V.; Rymko, V.; Sholomicki, V.
2018Основы теории систем автоматического управления : пособиеАваков, С. М.; Огер, В. П.; Гуревич, О. В.
2017Поиск объектов топологии микросхем на изображениях слоев топологии СБИСАваков, С. М.; Воронов, А. А.; Дедков, А. И.; Питкин, А. Б.; Титко, Д. С.; Шоломицкий, В. Г.
2013Прикладные задачи по высшей математике: аналит. геометрия : учебно-метод. пособиеКарпович, С. Е.; Дайняк, И. В.; Жарский, В. В.; Литвинов, Е. А.; Аваков, С. М.; Огер, В. П.
2018Программный комплекс управления оборудованием контроля критических размеров на базе систем машинного зренияАваков, С. М.; Воронов, А. А.; Ганченко, В. В.; Дудкин, А. А.; Дедков, А. И.; Шоломицкий, В. Г.
2007Система перемещений для оптико-механического оборудования микроэлектроникиАгранович, А. А.; Аваков, С. М.; Жарский, В. В.
2018Системы управления электронно-оптическими комплексами. Лабораторный практикум : пособиеАваков, С. М.; Огер, В. П.; Гуревич, О. В.; Костюкевич, А. А.
2016Технологические комплексы интегрированных процессов производства изделий электроникиДостанко, А. П.; Аваков, С. М.; Агеев, О. А.; Батура, М. П.; Бордусов, С. В.; Джуплин, В. Н.; Завадский, С. М.; Клим, О. В.; Ланин, В. Л.; Мадвейко, С. И.; Голосов, Д. А.; Мельников, С. Н.; Петухов, И. Б.; Ретюхин, Г. Е.; Русецкий, А. М.; Титко, Д. С.; Томаль, В. С; Трапашко, Г. А.; Чередниченко, С. Б; Школык, Д. И.