Репозиторий БГУИР: Browsing DSpace

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
or enter first few letters:

Showing results 1 to 20 of 97 next >

Issue Date	Title	Author(s)
2008	R, С элементы интегральных микросхем на основе наноструктурных вентильных металлов и композиционных металлоксидов	Мозалев, А. М.; Плиговка, А. Н.
2015	RC - задержка сигнала в металлических межсоединениях элементов интегральных микросхем	Бегунов, П. С.
2017	RC-задержка сигнала в межсоединениях интегральных микросхем	Черных, А. Г.; Шульгов, В. В.
2023	Автоматизированная система фиксации периода гармонических колебаний физического маятника	Михнюк, А. И.; Пашковец, М. В.
2021	Алгоритмы кодирования и взлома кодов структурных реализаций цифровых устройств	Золоторевич, Л. А.; Ильинков, В. А.
2021	Анализ геометрических параметров контактов кремниевой подложки и алюминиевой шины в интегральных микросхемах (ИМС) с использованием микроскопа с фокусированным ионным пучком	Кабак, Т. В.; Петлицкая, Т. В.
2023	Анализ особенностей работы средств контроля субмикронных структур изделий электронной техники	Кабак, Т. В.
2021	Анализ топологии фрагмента сечения интегральной микросхемы (ИМС) с использованием микроскопа с фокусированным ионным пучком	Кабак, Т. В.
2017	Аналоговая схемотехника. Лабораторный практикум. В 2 ч. Ч. 2: пособие	Крушев, В. Т.
2011	Базовые технологические процессы изготовления интегральных схем и микроэлектромеханических систем. Лаб. практикум : учебно - метод. пособие	Котов, Д. А.; Родионов, Ю. А.
2025	Возможности сотрудничества Беларуси и Китая в сфере микроэлектроники	Будник, В. С.
2019	Восприимчивость полупроводниковых приборов и интегральных микросхем к воздействию ВЧ и СЧВ помех	Шлома, С. Л.
2021	Выявление дефектов интегральной микросхемы (ИМС) посредством ионно-лучевого травления	Кабак, Т. В.; Петлицкая, Т. В.
2023	Двухлучевая лазерная обработка кварца для резонаторов и фотошаблонов субмикронных интегральных микросхем	Соколов, С. И.
2020	Деградация характеристик МОП-структур в условиях накопления заряда в подзатворном диэлектрике на основе двуокиси кремния	Писаренко, Н. С.
2018	Диагностика интегральных микросхем методом послойного анализа	Петровский, Е. В.
1982	Запоминающее устройство с исправлением ошибок	Конопелько, В. К.
1983	Запоминающее устройство с самоконтролем	Конопелько, В. К.
2021	Измерение тепловых сопротивлений силовых полупроводниковых приборов	Герман, Е. В.; Гармилин, Е. В.
2021	Ионно-лучевые технологии как средство анализа топологии интегральной микросхемы (ИМС)	Кабак, Т. В.

Showing results 1 to 20 of 97 next >

Browsing by Subject интегральные микросхемы