Issue Date | Title | Author(s) |
2018 | Анализ дефектов интегральных схем с использованием растро-вого электронного микроскопа в режиме наведенного тока | Солодуха ., В. А.; Шведов, С. В.; Петлицкий, А. Н.; Петлицкая, Т. В.; Чигирь, Г. Г.; Пилипенко, В. А.; Филипеня, В. А.; Жигулин, Д. В.; Уситименко, Д. С. |
2016 | Анализ причин неработоспособности кристаллов Ethernet контроллера 1990ВГ3Т | Троицкий, В. Ю.; Орешков, М. В.; Захарченко, А. А.; Трепалин, А. П.; Петлицкая, Т. В.; Филипеня, В. А. |
2019 | Влияние поверхностного потенциала анодных алюмооксидных пленок на их зарядовые свойства | Ле Динь Ви; Купреева, О. В.; Дудич, В. В.; Филипеня, В. А.; Лазарук, С. К. |
2019 | Влияние режимов формирования силицида платины методом быстрой термообработки на параметры диодов Шоттки | Солодуха, В. А.; Пилипенко, В. А.; Горушко, В. А.; Филипеня, В. А. |
2016 | Использование четырехзондового наноманипулятора для измерения вольтамперной характеристики биполярного N-P-N -транзистора | Пилипенко, В. А.; Солодуха, В. А.; Петлицкий, А. Н.; Шведов, С. В.; Панфиленко, А. К.; Петлицкая, Т. В.; Филипеня, В. А.; Жигулин, Д. В. |
2022 | Исследования электрофизических свойств тонких подзатворных диэлектриков, полученных методом быстрой термообработки | Ковальчук, Н. С.; Омельченко, А. А.; Пилипенко, В. А.; Солодуха, В. А.; Демидович, С. А.; Колос, В. В.; Филипеня, В. А.; Шестовский, Д. В. |
2020 | Конденсаторные структуры на основе пленок титаната бария, сформированных золь-гель методом | Холов, П. А.; Гапоненко, Н. В.; Шейдакова, К. В.; Крымский, В. И.; Филипеня, В. А.; Петлицкая, Т. В.; Колос, В. В.; Петлицкий, А. Н.; Петлицкий, А. Н. |
2018 | Оперативный анализ загрязнений кремниевых пластин рекомбинационно-активными примесями в производстве интегральных микросхем | Солодуха, В. А.; Шведов, С. В.; Чигирь, Г. Г.; Петлицкий, А. Н.; Пилипенко, В. А.; Ковальчук, Н. С.; Петлицкая, Т. В.; Филипеня, В. А.; Солодуха, В. А. |