Skip navigation

Browsing by Subject атомно-силовая микроскопия

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
 
Showing results 1 to 20 of 25  next >
Issue DateTitleAuthor(s)
2008Артефакты измерений, вносимые зондом атомного силового микроскопа в процессе сканированияЦиркунова, Н. Г.; Кухаренко, Л. В.; Чижик, С. А.; Борисенко, В. Е.
2019Бесконтактная атомно-силовая микроскопия. Метод прямого гармонического балансаБукато, А. В.
2019Влияние режимов формирования и условий термообработки на фазовый состав и структуру кремний-углеродных покрытий, осаждаемых ионно-лучевым распылениемРуденков, А. С.; Рогачев, А. В.; Купо, А. Н.; Завадский, С. М.; Голосов, Д. А.; Лучников, П. А.
2016Влияние состава и микрорельефа на смачивающие свойства поверхности фольг сплавов Al-In, полученных высокоскоростной кристаллизациейТашлыкова-Бушкевич, И. И.; Яковенко, Ю. С.; Шепелевич, В. Г.; Ташлыков, И. С.
2016Влияние состава и микрорельефа на смачивающие свойства поверхности фольг сплавов Al-In, полученных высокоскоростной кристаллизациейТашлыкова-Бушкевич, И. И.; Яковенко, Ю. С.; Ташлыков, И. С.; Шепелевич, В. Г.
2015Влияние ультразвуковых колебаний на кинетику процесса электроосаждения и структуру покрытий сплавом олово-висмутВасилец, В. К.; Кузьмар, И. И.; Хмыль, А. А.; Дежкунов, Н. В.; Горбачев, Д. Л.
2003Изучение морфологии и фрактальный анализ начальных стадий роста вакуумных покрытий ПТФЭКазаченко, В. П.; Киселевский, О. С.; Егоров, А. И.
2012Изучение морфологии поверхности ультратонких силицидов никеля методом атомно-силовой микроскопииЩелкунов, А. В.
2016Использование атомно-силовой микроскопии для диагностики морфо-функционального состояния тромбоцитов пациентов с ишемической болезнью сердцаКухаренко, Л. В.; Чижик, С. А.; Дрозд, Е. С.; Гелис, Л. Г.; Лазарева, И. В.; Медведева, Е. А.
2020Использование атомно-силовой микроскопии для фибробластов пациентов с анемией Фанкони после воздействия Γ-излученияКухаренко, Л. В.; Шиммель, Т.; Фукс, Х.; Барщевский, М.; Шман, Т. В.; Тарасова, А. В.
2010Использование атомного силового микроскопа для исследования p-n-переходовЦиркунова, Н. Г.; Соловьев, Я. А.; Борисенко, В. Е.
2022Исследование морфологии поверхности тонких пленок диоксида гафнияЗырянова, А. С.
2010Исследование свойств тонких пленок ниобия для формирования столбиковых структурЦиркунова, Н. Г.; Лазарук, С. К.; Ухов, В. А.; Борисенко, В. Е.
2024Композиционные покрытия полиметилметакрилата с наночастицами диоксида кремния для емкостных датчиков контроля содержания никеля в водеСапсалёв, Д. В.; Мельникова, Г. Б.; Аксючиц, А. В.; Толстая, Т. Н.; Котов, Д. А.; Чижик, С. А.
2018Методы сегментации в системах распределения мультимедийной информацииЛовецкий, М. Ю.
2024Микроструктурный анализ быстрозатвердевших фольг сплава Al–Mg–Cu–Mn–FeСтоляр, И. А.; Ташлыкова-Бушкевич, И. И.; Шепелевич, В.Г.; Wu, R.
2019Многоуровневая функциональная визуализация интерфейсов с помощью атомно-силовой микроскопииБукато, А. В.; Досова, А. П.
2008Наноструктурные свойства тонких пленок ниобияЦиркунова, Н. Г.; Лазарук, С. К.; Ухов, В. А.; Борисенко, В. Е.
2020Обработка изображений атомно-силового микроскопа с помощью методов математической статистикиДеркач, А. В.; Карымов, А. Г.; Посудневский, И. И.
2020Оценка работы алгоритма волнового выращивания областей локальных максимумов с выбором пикселей в порядке убывания значений для различных типов АСМ-изображенийРабцевич, В. В.; Цветков, В. Ю.