Skip navigation

Browsing by Subject биполярные транзисторы

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
 
Showing results 1 to 20 of 40  next >
Issue DateTitleAuthor(s)
2022Арсенид-галлиевый гетеропереходный биполярный транзисторКратович, П. С.; Тернов, Р. Е.
2021Выбор имитационных факторов для моделирования постепенных отказов биполярных транзисторов большой мощностиКалита, Е. В.; Бересневич, А. И.; Боровиков, С. М.; Borovikov, S. M.
2006Достоверность прогнозирования функциональных параметров полупроводниковых приборов методом имитационных воздействийБоровиков, С. М.; Бересневич, А. И.; Шалак, А. В.
1982Интегральный биполярный транзисторМатсон, Э. А.; Галузо, В. Е.
2013Интервальный прогноз деградации электрических параметров изделий электронной техникиБоровиков, С. М.
2012Использование напряжения коллектор–эмиттер в качестве имитационного фактора для прогнозирования постепенных отказов биполярных транзисторовБересневич, А. И.
2013Использование параметров электрического режима биполярных транзисторов в качестве имитационных факторовБересневич, А. И.; Бондаренок, П. А.; Бруй, А. А.
2005Использование параметров электрического режима биполярных транзисторов в качестве имитационных факторовБересневич, А. И.; Боровиков, С. М.
2011Использование распределения Вейбулла для прогнозирования параметрической надежности электронной техникиБоровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.
2025Компьютерная программа для прогнозирования надёжности по постепенным отказам биполярных транзисторов методом имитационных воздействийГовса, М. В.
2024Конструктивные решения приборных структур биполярных транзисторов с изолированным затвором и вертикальным расположением каналаЧонг Тхань Нгуен; Дао Динь Ха; Ловшенко, И. Ю.; Стемпицкий, В. Р.
1999Лабораторный практикум по курсу "Электронные приборы" для студентов всех специальностей БГУИР. В 2 Ч. Ч. 2. Аналоговые и импульсные устройстваБельский, А. Я.; Березовский, В. К.; Валенко, В. С.; Дробот, С. В.; Дунаева, Г. П.; Мельников, В. А.; Путилин, В. Н.; Русакович, В. Н.; Ткаченко, Ф. А.; Хандогин, М. С.
2023Метод прогнозирования электрического функционального параметра биполярных транзисторов для длительных наработокКалита, Е. В.
2013Методика индивидуального прогнозирования постепенных отказов изделий электронной техники методом имитационных воздействийБоровиков, С. М.
2015Модели на основе распределения Вейбулла-Гнеденко для описания деградации функциональных параметров изделий электронной техникиБоровиков, С. М.; Borovikov, S. M.
2022Моделирование постепенных отказов биполярных транзисторов с использованием электрических нагрузок в качестве имитационного воздействияКалита, Е. В.; Бересневич, А. И.
2010Моделирование технологии формирования структуры IGBT транзистораШелибак, И. М.
2022Моделирование электрического параметра транзисторов при прогнозировании их надежности методом имитационных воздействийБоровиков, С. М.; Калита, Е. В.; Бересневич, А. И.
2022Модель прогнозирования постепенных отказов биполярных транзисторов большой мощности методом имитационных воздействий для аппаратуры систем телекоммуникацийБоровиков, С. М.; Будник, А. В.; Калита, Е. В.; Бересневич, А. И.
2008Мощные и СВЧ полупроводниковые приборы : учеб. - метод. пособиеКолосницын, Б. С.