Skip navigation
Home
Browse
Browse Items by:
Issue Date
Author
Title
Subject
Communities & Collections
Lang
русский
English
Log in:
My DSpace
Receive email
updates
Edit Profile
Репозиторий БГУИР
Browsing by Subject биполярные транзисторы
Jump to:
0-9
A
B
C
D
E
F
G
H
I
J
K
L
M
N
O
P
Q
R
S
T
U
V
W
X
Y
Z
А
Б
В
Г
Д
Е
Ж
З
И
Й
К
Л
М
Н
О
П
Р
С
Т
У
Ф
Х
Ц
Ч
Ш
Щ
Ъ
Ы
Ь
Э
Ю
Я
or enter first few letters:
Sort by:
title
issue date
submit date
In order:
Ascending
Descending
Results/Page
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
Authors/Record:
All
1
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
Showing results 1 to 20 of 40
next >
Issue Date
Title
Author(s)
2022
Арсенид-галлиевый гетеропереходный биполярный транзистор
Кратович, П. С.
;
Тернов, Р. Е.
2021
Выбор имитационных факторов для моделирования постепенных отказов биполярных транзисторов большой мощности
Калита, Е. В.
;
Бересневич, А. И.
;
Боровиков, С. М.
;
Borovikov, S. M.
2006
Достоверность прогнозирования функциональных параметров полупроводниковых приборов методом имитационных воздействий
Боровиков, С. М.
;
Бересневич, А. И.
;
Шалак, А. В.
1982
Интегральный биполярный транзистор
Матсон, Э. А.
;
Галузо, В. Е.
2013
Интервальный прогноз деградации электрических параметров изделий электронной техники
Боровиков, С. М.
2012
Использование напряжения коллектор–эмиттер в качестве имитационного фактора для прогнозирования постепенных отказов биполярных транзисторов
Бересневич, А. И.
2013
Использование параметров электрического режима биполярных транзисторов в качестве имитационных факторов
Бересневич, А. И.
;
Бондаренок, П. А.
;
Бруй, А. А.
2005
Использование параметров электрического режима биполярных транзисторов в качестве имитационных факторов
Бересневич, А. И.
;
Боровиков, С. М.
2011
Использование распределения Вейбулла для прогнозирования параметрической надежности электронной техники
Боровиков, С. М.
;
Шнейдеров, Е. Н.
2025
Компьютерная программа для прогнозирования надёжности по постепенным отказам биполярных транзисторов методом имитационных воздействий
Говса, М. В.
2024
Конструктивные решения приборных структур биполярных транзисторов с изолированным затвором и вертикальным расположением канала
Чонг Тхань Нгуен
;
Дао Динь Ха
;
Ловшенко, И. Ю.
;
Стемпицкий, В. Р.
1999
Лабораторный практикум по курсу "Электронные приборы" для студентов всех специальностей БГУИР. В 2 Ч. Ч. 2. Аналоговые и импульсные устройства
Бельский, А. Я.
;
Березовский, В. К.
;
Валенко, В. С.
;
Дробот, С. В.
;
Дунаева, Г. П.
;
Мельников, В. А.
;
Путилин, В. Н.
;
Русакович, В. Н.
;
Ткаченко, Ф. А.
;
Хандогин, М. С.
2023
Метод прогнозирования электрического функционального параметра биполярных транзисторов для длительных наработок
Калита, Е. В.
2013
Методика индивидуального прогнозирования постепенных отказов изделий электронной техники методом имитационных воздействий
Боровиков, С. М.
2015
Модели на основе распределения Вейбулла-Гнеденко для описания деградации функциональных параметров изделий электронной техники
Боровиков, С. М.
;
Borovikov, S. M.
2022
Моделирование постепенных отказов биполярных транзисторов с использованием электрических нагрузок в качестве имитационного воздействия
Калита, Е. В.
;
Бересневич, А. И.
2010
Моделирование технологии формирования структуры IGBT транзистора
Шелибак, И. М.
2022
Моделирование электрического параметра транзисторов при прогнозировании их надежности методом имитационных воздействий
Боровиков, С. М.
;
Калита, Е. В.
;
Бересневич, А. И.
2022
Модель прогнозирования постепенных отказов биполярных транзисторов большой мощности методом имитационных воздействий для аппаратуры систем телекоммуникаций
Боровиков, С. М.
;
Будник, А. В.
;
Калита, Е. В.
;
Бересневич, А. И.
2008
Мощные и СВЧ полупроводниковые приборы : учеб. - метод. пособие
Колосницын, Б. С.