| Issue Date | Title | Author(s) |
| 2021 | Анализ геометрических параметров контактов кремниевой подложки и алюминиевой шины в интегральных микросхемах (ИМС) с использованием микроскопа с фокусированным ионным пучком | Кабак, Т. В.; Петлицкая, Т. В. |
| 2021 | Анализ отказа интегральной микросхемы (ИМС) с использованием микроскопа с фокусированным ионным пучком | Кабак, Т. В. |
| 2021 | Анализ топологии фрагмента сечения интегральной микросхемы (ИМС) с использованием микроскопа с фокусированным ионным пучком | Кабак, Т. В. |
| 2022 | Влияние параметров ионного пучка на электрофизические характеристики тонких пленок меди | Гутенко, Н. Д. |
| 2025 | Влияние температуры подложки на характеристики фторуглеродных покрытий, полученных прямым осаждением из ионных пучков | Шевчик, Е. В.; Курбако, Е. Г. |
| 2024 | Исследование влияния режимов отжига подложки GaAs(lll) на характеристики наноуглублений, формируемых фокусированными ионными пучками | Лахина, Е. А.; Черненко, Н. Е.; Кириченко, Д. В.; Шандыба, Н. А.; Балакирев, С. В.; Солодовник, М. С. |
| 2023 | Исследование состава вторичных ионных пучков меди и аргона | Гутенко, Н. Д. |
| 2025 | Исследования расходимости и энергетики ионного пучка сеточного источника | Сивец, А. И.; Моор, К. Д.; Никитин, А. В.; Леонович, Н. В. |
| 2025 | Нанесение покрытий из титана и молибдена прямым осаждением из ионного пучка | Перепечко, Е. Ю.; Гутенко, Н. Д. |
| 2020 | Оптические свойства пленок SiOF, полученных прямым осаждением из ионных пучков | Данилевич, Д. С. |
| 2015 | Оптические характеристики тонких пленок диоксида кремния, полученных прямым осаждением из ионных пучков | Телеш, Е. В.; Достанко, А. П.; Вашуров, А. Ю. |
| 2017 | Свойства пленок SiO2, полученных прямым осаждением из ионных пучков | Святохо, С. В. |
| 2025 | Синтез фторуглеродных покрытий из ионного пучка | Ракицкий, А. А. |
