Репозиторий БГУИР: Browsing DSpace

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
or enter first few letters:

Showing results 1 to 20 of 84 next >

Issue Date	Title	Author(s)
2019	Аlgorithm of setting the configure-tion of the closed loops of the matrix switch	Tsedik, V. A.; Lisenkov, B. N.; Shaklevich, G. M.
2023	Влияние ориентации каналов в кулерах воздушного охлаждения на эффективность отведения тепла от процессоров	Пискун, Г. А.; Алексеев, В. Ф.; Беликов, А. Н.; Рыбаков, Д. Г.
2019	Восприимчивость полупроводниковых приборов и интегральных микросхем к воздействию ВЧ и СЧВ помех	Шлома, С. Л.
2005	Выбор имитационных воздействий в задачах прогнозирования постепенных отказов полупроводниковых приборов	Бересневич, А. И.; Боровиков, С. М.
2019	Дефекты полупроводниковых приборов, вызванные воздействием ЭМИ	Лисовский, А. А.; Константинов, А. А.; Панасюк, Н. А.
2021	Дисперсные эффекты в системе «металл-жидкость-металл»	Лещинская, А. В.
2006	Достоверность прогнозирования функциональных параметров полупроводниковых приборов методом имитационных воздействий	Боровиков, С. М.; Бересневич, А. И.; Шалак, А. В.
2021	Измерение тепловых сопротивлений силовых полупроводниковых приборов	Герман, Е. В.; Гармилин, Е. В.
2022	Измеритель характеристик полупроводниковых приборов	Закаблук, А. Ю.
2020	Индивидуальное прогнозирование надежности биполярных транзисторов с использованием электрического напряжения в качестве имитационного фактора	Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Бересневич, А. И.; Казючиц, В. О.
2021	Индивидуальное прогнозирование надежности транзисторов большой мощности для электронных устройств медицинского назначения	Боровиков, С. М.; Казючиц, В. О.
2005	Использование температуры в качестве имитационного фактора при прогнозировании постепенных отказов полупроводниковых приборов	Боровиков, С. М.; Бересневич, А. И.
2022	Использование языка Python для автоматизации процесса получения моделей прогнозирования надёжности выборок полупроводниковых приборов	Кравец, Р. А.; Бараш, К. С.; Карачун, М. Д.
2005	Испытание и исследование полупроводниковых приборов и интегральных микросхем: метод. указания и контрольные задания для студентов специальности 41 01 02 «Микро- и наноэлектр. технологии и системы» заоч. и дистанц. форм обучения	Колосницын, Б. С.; Короткевич, А. В.
2019	Исследование процессов переноса носителей заряда в многослойных полупроводниковых структурах с использованием графена	Муравьев, В. В.; Мищенко, В. Н.
2015	Исследование восприимчивости полупроводниковых приборов к воздействию электромагнитных помех	Титович, Н. А.; Ползунов, В. В.
2024	Исследование особенностей физического процесса переноса носителей заряда в графене, входящем в состав гетероструктурного полупроводникового прибора	Мищенко, В. Н.; Матусевич, П. А.; Митрофанов, А. Д.; Сурвило, И. С.
2023	Исследование электромагнитного импульсного воздействия на электронные схемы	Луцкий, А. В.; Абрамчук, А. В.
2022	Классификация устройств для организации тестирования ЭКБ в диапазоне температур	Ефименко, С. А.; Смолич, В. А.
2008	Метод повышения чувствительности измерителей параметров высоковольтных полупроводниковых приборов	Жданович, А. А.

Showing results 1 to 20 of 84 next >

Browsing by Subject полупроводниковые приборы