Skip navigation

Browsing by Author Емельянов, В. А.

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
or enter first few letters:  
Showing results 1 to 20 of 20
Issue DateTitleAuthor(s)
2005Анализ микроэлектронных структур с высоким пространственным разрешениемЕмельянов, В. А.; Пономарь, В. Н.; Ухов, В. А.; Лесникова, В. П.
2006Анализ развития фаундри-бизнеса и методика его организации на полупроводниковом предприятииЕмельянов, В. А.; Архипова, Л. И.; Силин, А. В.
2005Анализ элементной базы систем защиты информации в государственном центре "Белмикроанализ"Емельянов, В. А.; Пономарь, В. Н.; Чигирь, Г. Г.; Ухов, В. А.
2017Гальванические покрытия в изделиях электроникиХмыль, А. А.; Ланин, В. Л.; Емельянов, В. А.
2021Двулучевая лазерная очистка кварцевого сырьяЕмельянов, В. А.; Шершнев, Е. Б.; Соколов, С. И.
2006Исследование физико- механического состояния поверхности кристаллического кремния маятниковым методомДжилавдари, И. З.; Емельянов, В. А.; Пилипенко, В. А.; Петлицкая, Т. В.
2015Конденсатор для интегральной микросхемыХмыль, А. А.; Емельянов, А. В.; Алиева, Н. В.; Емельянов, В. А.; Трусов, В. Л.; Шикуло, В. Е.; Сенько, С. Ф.
2013Конденсатор для интегральных микросхемХмыль, А. А.; Емельянов, А. В.; Алиева, Н. В.; Емельянов, В. А.; Трусов, В. Л.; Шикуло, В. Е.; Сенько, С. Ф.
2018Коррозионная стойкость контактных соединений и покрытий в изделиях электроникиЗенин, В. В.; Ланин, В. Л.; Емельянов, В. А.; Спиридонов, Б. А.
2007Лабораторный практикум по дисциплинам «Технология изделий интегральной электроники», «Специальное технологическое оборудование» для студентов специальностей «Проектирование и производство РЭС», «Электронно-оптические системы и технологии». Ч. 2Емельянов, В. А.; Ануфриев, Л. П.; Достанко, А. П.; Ланин, В. Л.; Глухманчук, В. В.; Завадский, С. М.; Кайдов, О. Л.; Коробко, А. О.; Гвоздевич, С. В.; Сивец, В. И.; Шамягин, В. П.
2007Лабораторный практикум по дисциплинам «Технология изделий интегральной электроники», «Специальное технологическое оборудование» для студентов специальностей «Проектирование и производство РЭС», «Электронно-оптические системы и технологии». Ч. 3.Емельянов, В. А.; Ануфриев, Л. П.; Достанко, А. П.; Бордусов, С. В.; Гурский, Л. И.; Ланин, В. Л.; Турцевич, А. С.; Соловьев, Я. А.; Портнов, Л. Я.; Коробко, А. О.; Король, И. П.; Борисик, А. В.; Осипов, А. А.
2020Многослойные токопроводящие пленки полупроводниковых приборов и интегральных микросхемЕмельянов, В. А.; Баранов, В. В.; Емельянов, В. В.; Emelyanov, V. A.; Baranov, V. V.; Emelyanov, V. V.
2021Моделирование температурного поля и расчет механических напряжений при двулучевом лазерном управляемом термораскалывании кварцевого стеклаЕмельянов, В. А.; Шершнев, Е. Б.; Соколов, С. И.; Купо, А. Н.
2015Способ изготовления конденсатора для интегральной микросхемыХмыль, А. А.; Емельянов, А. В.; Алиева, Н. В.; Емельянов, В. А.; Трусов, В. Л.; Шикуло, В. Е.; Сенько, С. Ф.
2021Стабилизация шумовых параметров при отжиге высоколегированных структур диодов – генераторов шумаБуслюк, В. В.; Емельянов, В. А.; Баранов, В. В.; Дереченник, С. С.; Просолович, В. С.
2007Схемотехника серии быстродействующих КМОП логических ИС, устойчивых к специальным внешним воздействиямЕмельянов, В. А.; Калошкин, Э. П.; Силин, А. В.; Шведов, С. В.
2021Технология и оборудование микросварки в производстве изделий электронной техники : монографияПетухов, И. Б.; Ланин, В. Л.; Емельянов, В. А.
2021Формирование стабильной дефектной структуры в кремениевых диодах генераторах шумаЕмельянов, В. В.; Емельянов, В. А.; Баранов, В. В.; Буслюк, В. В.; Emelyanov, V. V.; Emelyanov, V. A.; Baranov, V. V.; Busliuk, V. V.
2005Цифровая оптическая микроскопия в производстве элементной базы для систем защиты информацииЕмельянов, В. А.; Пономарь, В. Н.; Чигирь, Г. Г.
2013Электромонтажные соединения в электронике: технология, оборудование, контроль качестваЛанин, В. Л.; Емельянов, В. А.