| Issue Date | Title | Author(s) |
| 2005 | Анализ микроэлектронных структур с высоким пространственным разрешением | Емельянов, В. А.; Пономарь, В. Н.; Ухов, В. А.; Лесникова, В. П. |
| 2006 | Анализ развития фаундри-бизнеса и методика его организации на полупроводниковом предприятии | Емельянов, В. А.; Архипова, Л. И.; Силин, А. В. |
| 2005 | Анализ элементной базы систем защиты информации в государственном центре "Белмикроанализ" | Емельянов, В. А.; Пономарь, В. Н.; Чигирь, Г. Г.; Ухов, В. А. |
| 2017 | Гальванические покрытия в изделиях электроники | Хмыль, А. А.; Ланин, В. Л.; Емельянов, В. А. |
| 2021 | Двулучевая лазерная очистка кварцевого сырья | Емельянов, В. А.; Шершнев, Е. Б.; Соколов, С. И. |
| 2006 | Исследование физико- механического состояния поверхности кристаллического кремния маятниковым методом | Джилавдари, И. З.; Емельянов, В. А.; Пилипенко, В. А.; Петлицкая, Т. В. |
| 2015 | Конденсатор для интегральной микросхемы | Хмыль, А. А.; Емельянов, А. В.; Алиева, Н. В.; Емельянов, В. А.; Трусов, В. Л.; Шикуло, В. Е.; Сенько, С. Ф. |
| 2013 | Конденсатор для интегральных микросхем | Хмыль, А. А.; Емельянов, А. В.; Алиева, Н. В.; Емельянов, В. А.; Трусов, В. Л.; Шикуло, В. Е.; Сенько, С. Ф. |
| 2018 | Коррозионная стойкость контактных соединений и покрытий в изделиях электроники | Зенин, В. В.; Ланин, В. Л.; Емельянов, В. А.; Спиридонов, Б. А. |
| 2007 | Лабораторный практикум по дисциплинам «Технология изделий интегральной электроники», «Специальное технологическое оборудование» для студентов специальностей «Проектирование и производство РЭС», «Электронно-оптические системы и технологии». Ч. 2 | Емельянов, В. А.; Ануфриев, Л. П.; Достанко, А. П.; Ланин, В. Л.; Глухманчук, В. В.; Завадский, С. М.; Кайдов, О. Л.; Коробко, А. О.; Гвоздевич, С. В.; Сивец, В. И.; Шамягин, В. П. |
| 2007 | Лабораторный практикум по дисциплинам «Технология изделий интегральной электроники», «Специальное технологическое оборудование» для студентов специальностей «Проектирование и производство РЭС», «Электронно-оптические системы и технологии». Ч. 3. | Емельянов, В. А.; Ануфриев, Л. П.; Достанко, А. П.; Бордусов, С. В.; Гурский, Л. И.; Ланин, В. Л.; Турцевич, А. С.; Соловьев, Я. А.; Портнов, Л. Я.; Коробко, А. О.; Король, И. П.; Борисик, А. В.; Осипов, А. А. |
| 2020 | Многослойные токопроводящие пленки полупроводниковых приборов и интегральных микросхем | Емельянов, В. А.; Баранов, В. В.; Емельянов, В. В.; Emelyanov, V. A.; Baranov, V. V.; Emelyanov, V. V. |
| 2021 | Моделирование температурного поля и расчет механических напряжений при двулучевом лазерном управляемом термораскалывании кварцевого стекла | Емельянов, В. А.; Шершнев, Е. Б.; Соколов, С. И.; Купо, А. Н. |
| 2015 | Способ изготовления конденсатора для интегральной микросхемы | Хмыль, А. А.; Емельянов, А. В.; Алиева, Н. В.; Емельянов, В. А.; Трусов, В. Л.; Шикуло, В. Е.; Сенько, С. Ф. |
| 2021 | Стабилизация шумовых параметров при отжиге высоколегированных структур диодов – генераторов шума | Буслюк, В. В.; Емельянов, В. А.; Баранов, В. В.; Дереченник, С. С.; Просолович, В. С. |
| 2007 | Схемотехника серии быстродействующих КМОП логических ИС, устойчивых к специальным внешним воздействиям | Емельянов, В. А.; Калошкин, Э. П.; Силин, А. В.; Шведов, С. В. |
| 2021 | Технология и оборудование микросварки в производстве изделий электронной техники : монография | Петухов, И. Б.; Ланин, В. Л.; Емельянов, В. А. |
| 2021 | Формирование стабильной дефектной структуры в кремениевых диодах генераторах шума | Емельянов, В. В.; Емельянов, В. А.; Баранов, В. В.; Буслюк, В. В.; Emelyanov, V. V.; Emelyanov, V. A.; Baranov, V. V.; Busliuk, V. V. |
| 2005 | Цифровая оптическая микроскопия в производстве элементной базы для систем защиты информации | Емельянов, В. А.; Пономарь, В. Н.; Чигирь, Г. Г. |
| 2013 | Электромонтажные соединения в электронике: технология, оборудование, контроль качества | Ланин, В. Л.; Емельянов, В. А. |
