Skip navigation
Home
Browse
Browse Items by:
Issue Date
Author
Title
Subject
Communities & Collections
Lang
русский
English
Log in:
My DSpace
Receive email
updates
Edit Profile
Репозиторий БГУИР
Browsing by Author Петлицкий, А. Н.
Jump to:
0-9
A
B
C
D
E
F
G
H
I
J
K
L
M
N
O
P
Q
R
S
T
U
V
W
X
Y
Z
А
Б
В
Г
Д
Е
Ж
З
И
Й
К
Л
М
Н
О
П
Р
С
Т
У
Ф
Х
Ц
Ч
Ш
Щ
Ъ
Ы
Ь
Э
Ю
Я
or enter first few letters:
Sort by:
title
issue date
submit date
In order:
Ascending
Descending
Results/Page
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
Authors/Record:
All
1
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
Showing results 10 to 22 of 22
< previous
Issue Date
Title
Author(s)
2018
М – фактор как критерий качества технологического процесса изготовления полупроводниковых структур
Солодуха, В. А.
;
Петлицкий, А. Н.
;
Петлицкая, Т. В.
;
Пилипенко, В. А.
;
Ковальчук, Н. С.
2019
Метод контроля свойств технологических жидкостей
Волчёк, C. А.
;
Гранько, С. В.
;
Завацкий, С. А.
;
Петрович, В. А.
;
Серенков, В. Ю.
;
Петлицкий, А. Н.
;
Zavatski, S. A.
2018
Оперативный анализ загрязнений кремниевых пластин рекомбинационно-активными примесями в производстве интегральных микросхем
Солодуха, В. А.
;
Шведов, С. В.
;
Чигирь, Г. Г.
;
Петлицкий, А. Н.
;
Пилипенко, В. А.
;
Ковальчук, Н. С.
;
Петлицкая, Т. В.
;
Филипеня, В. А.
;
Солодуха, В. А.
2018
Оптические характеристики пленок титаната стронция, полученных золь-гель методом
Стаськов, Н. И.
;
Сотский, А. Б.
;
Сотская, Л. И.
;
Ивашкевич, И. В.
;
Кулак, А. И.
;
Гапоненко, Н. В.
;
Руденко, М. В.
;
Петлицкий, А. Н.
2018
Современные методы и оборудование для исследования полупроводниковых структур микро- и наноэлектроники в центре коллективного пользования "Белмикроанализ" ОАО"ИНТЕГРАЛ"
Солодуха, В. А.
;
Петлицкий, А. Н.
;
Петлицкая, Т. В.
;
Пилипенко, В. А.
;
Ковальчук, Н. С.
2023
Соединение пластин кремния стеклообразным нанокомпозитом, формируемым золь-гель методом
Гайшун, В. Е.
;
Косенок, Я. А.
;
Васькевич, В. В.
;
Тюленкова, О. И.
;
Борисенко, В. Е.
;
Ковальчук, Н. С.
;
Петлицкий, А. Н.
;
Чумак, С. В.
2015
Солнечные элементы с CuxInxZn2-2xSe2 поглощающим слоем
Хорошко, В. В.
;
Цырельчук, И. Н.
;
Гременок, В. Ф.
;
Петлицкий, А. Н.
2022
Специальные материалы и субмикронные компоненты. Лабораторный практикум : пособие
Соловьёв, Я. А.
;
Шахлевич, Г. М.
;
Петлицкий, А. Н.
2018
Технологии субмикронных структур микроэлектроники
Достанко, А. П.
;
Бордусов, С. В.
;
Голосов, Д. А.
;
Завадский, С. М.
;
Колос, В. В.
;
Купо, А. Н.
;
Ланин, В. Л.
;
Лушакова, М. С.
;
Мадвейко, С. И.
;
Мельников, С. Н.
;
Петлицкий, А. Н.
;
Петухов, И. Б.
;
Солодуха, В. А.
;
Телеш, Е. В.
2019
Фемтосекундное лазерное скрайбирование сапфира на длинах волн 1040 и 520 нм
Шуленкова, В. А.
;
Луценко, Е. В.
;
Данильчик, А. В.
;
Соловьёв, Я. А.
;
Петлицкий, А. Н.
;
Киросирова, М. В.
2022
Экспресс-контроль элементов интегральных микросхем с использованием растровой электронной микроскопии и режима наведенного тока
Петлицкий, А. Н.
;
Жигулин, Д. А.
;
Ланин, В. Л.
2020
Экспресс-контроль элементов интегральных схем с использованием растровой электронной микроскопии и режима наведенного тока
Петлицкий, А. Н.
;
Жигулин, Д. В.
;
Ланин, В. Л.
2018
Экспрессный контроль надежности подзатворного диэлектрика интегральных микросхем по величине пробивного напряжения при разных скоростях развертки
Солодуха, В. А.
;
Шведов, С. В.
;
Ковальчук, Н. С.
;
Чигирь, Г. Г.
;
Петлицкий, А. Н.