Skip navigation
DSpace logo
  1. Репозиторий БГУИР

Browsing by Author Пилипенко, В. А.

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
 
Showing results 1 to 20 of 36  next >
Issue DateTitleAuthor(s)
2017Анализ дефектов интегральных схем с использованием атомно-силового микроскопаПилипенко, В. А.; Солодуха, В. А.; Шведов, С. В.; Петлицкий, А. Н.; Петлицкая, Т. В.; Шабалина, С. В.; Устименко, Д. С.
2018Анализ дефектов интегральных схем с использованием растрового электронного микроскопа в режиме наведенного токаСолодуха ., В. А.; Шведов, С. В.; Петлицкий, А. Н.; Петлицкая, Т. В.; Чигирь, Г. Г.; Пилипенко, В. А.; Филипеня, В. А.; Жигулин, Д. В.; Уситименко, Д. С.
2018Влияние быстрой термической обработки подзатворного диэлектрика на параметры мощных полевых МОSFЕТ транзисторовСолодуха, В. А.; Пилипенко, В. А.; Горушко, В. А.
2008Влияние процесса оплавления легкоплавких стекол на их зарядовые свойства и перераспределение примеси в ионно-легированных слояхВечер, Д. В.; Пилипенко, В. А.; Горушко, В. А.; Сякерский, В. С.; Петлицкая, Т. В.
2008Влияние адгезии на период свободных микрокачаний маятникаДжилавдари, И. З.; Пилипенко, В. А.; Ризноокая, Н. Н.
2020Влияние быстрой термической обработки подзатворного диэлектрика на параметры микросхем временных устройствСолодуха, В. А.; Пилипенко, В. А.; Горушко, В. А.
2017Влияние быстрой термообработки на оптические параметры кремнияСолодуха, В. А.; Пилипенко, В. А.; Омельченко, А. А.; Жигулин, Д. В.; Петлицкая, Т. В.; Соловьев, Я. А.
2024Влияние быстрой термообработки при формировании контактов алюминий-поликремний на электрические параметры КМОП микросхемПилипенко, В. А.; Ковальчук, Н. С.; Соловьёв, Я. А.; Шестовский, Д. В.; Жигулин, Д. В.
2020Влияние временных режимов термообработки на микроструктуру системы Pt-SiСолодуха, В. А.; Пилипенко, В. А.; Комаров, Ф. Ф.; Горушко, В. А.
2009Влияние лазерного геттерирования на параметры биполярных интегральных микросхемПилипенко, В. А.; Вечер, Д. В.; Горушко, В. А.; Понарядов, В. В.; Сякерский, В. С.; Петлицкая, Т. В.
2019Влияние режимов формирования силицида платины методом быстрой термообработки на параметры диодов ШотткиСолодуха, В. А.; Пилипенко, В. А.; Горушко, В. А.; Филипеня, В. А.
2024Влияние рекристаллизации механически нарушенного слоя с рабочей стороны кремниевой пластины на электрические параметры КМОП интегральных микросхемПилипенко, В. А.; Солодуха, В. А.; Сергейчик, А. А.; Шестовский, Д. В.
2020Влияние температуры быстрой термической обработки на электрофизические свойства пленок никеля на кремнииСоловьёв, Я. А.; Пилипенко, В. А.
2022Влияние термической нагрузки при формировании контактов al-al на электрические параметры интегральных микросхем с контактами алюминий-поликремнийПилипенко, В. А.; Солодуха, В. А.; Ковальчук, Н. С.; Соловьёв, Я. А.; Шестовский, Д. В.; Жигулин, Д. В.
2019Влияние условий быстрой термической обработки на электрофизические свойства тонких пленок хрома на кремнииСоловьев, Я. А.; Пилипенко, В. А.
2020Инновационные технологии и оборудование субмикронной электроникиДостанко, А. П.; Аваков, С. М.; Голосов, Д. А.; Емельянов, В. В.; Завадский, С. М.; Колос, В. В.; Ланин, В. Л.; Мадвейко, С. И.; Мельников, С. Н.; Никитюк, Ю. В.; Петлицкий, А. Н.; Петухов, И. Б.; Пилипенко, В. А.; Плебанович, В. И.; Солодуха, В. А.; Соколов, С. И.; Телеш, Е. В.; Шершнев, Е. Б.
2016Использование четырехзондового наноманипулятора для измерения вольтамперной характеристики биполярного N-P-N -транзистораПилипенко, В. А.; Солодуха, В. А.; Петлицкий, А. Н.; Шведов, С. В.; Панфиленко, А. К.; Петлицкая, Т. В.; Филипеня, В. А.; Жигулин, Д. В.
2006Исследование физико- механического состояния поверхности кристаллического кремния маятниковым методомДжилавдари, И. З.; Емельянов, В. А.; Пилипенко, В. А.; Петлицкая, Т. В.
2022Исследования электрофизических свойств тонких подзатворных диэлектриков, полученных методом быстрой термообработкиКовальчук, Н. С.; Омельченко, А. А.; Пилипенко, В. А.; Солодуха, В. А.; Демидович, С. А.; Колос, В. В.; Филипеня, В. А.; Шестовский, Д. В.
2018М – фактор как критерий качества технологического процесса изготовления полупроводниковых структурПилипенко, В. А.; Солодуха, В. А.; Петлицкий, А. Н.; Ковальчук, Н. С.; Петлицкая, Т. В.; Филипеня, В. А.
Showing results 1 to 20 of 36  next >