Skip navigation

Browsing by Author Петлицкий, А. Н.

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я or enter first few letters:  
Showing results 1 to 20 of 21  next >
Issue DateTitleAuthor(s)
2015Thin-Film Capacitor Based on the Strontium Titanate Formed by the Sol Gel TechniqueAnaraki, H.; Gaponenko, N. V.; Rudenko, M. V.; Kolos, V. V.; Petlitskii, A. N.; Turtsevich, A. S.; Гапоненко, Н. В.; Руденко, М. В.; Колос, В. В.; Петлицкий, А. Н.; Турцевич, А. С.
2019Аммиачная молекулярно-пучковая эпитаксия гетероструктур AlGaN на подложках сапфираРжеуцкий, Н. В.; Соловьев, Я. А.; Войнилович, А. Г.; Свитенков, И. Е.; Петлицкий, А. Н.; Жигулин, Д. В.; Луценко, Е. В.; Rzheutski, M. V.; Solovjov, Ja. А.; Vainilovich, A. G.; Svitsiankou, I. E.; Pyatlitski, A. N.; Zhyhulin, D. V.; Lutsenko, E. V.
2017Анализ дефектов интегральных схем с использованием атомно-силового микроскопаПилипенко, В. А.; Солодуха, В. А.; Шведов, С. В.; Петлицкий, А. Н.; Петлицкая, Т. В.; Шабалина, С. В.; Устименко, Д. С.
2018Анализ дефектов интегральных схем с использованием растро-вого электронного микроскопа в режиме наведенного токаСолодуха ., В. А.; Шведов, С. В.; Петлицкий, А. Н.; Петлицкая, Т. В.; Чигирь, Г. Г.; Пилипенко, В. А.; Филипеня, В. А.; Жигулин, Д. В.; Уситименко, Д. С.
2014Диэлектрические характеристики конденсаторных структур на основе пленок титаната стронция, сформированных золь-гель методомСохраби Анараки, Х.; Гапоненко, Н. В.; Руденко, М. В.; Завадский, С. М.; Голосов, Д. А.; Гук, А. Ф.; Колос, В. В.; Петлицкий, А. Н.; Турцевич, А. С.
2013Золь-гель синтез пленок титаната стронция и перспективы их применения для изготовления элементов электронной техникиСохраби Анараки, Х.; Гапоненко, Н. В.; Завадский, С. М.; Руденко, М. В.; Голосов, Д. А.; Колос, В. В.; Петлицкий, А. Н.; Турцевич, А. С.; Колосницын, Б. С.
2020Инновационные технологии и оборудование субмикронной электроникиДостанко, А. П.; Аваков, С. М.; Голосов, Д. А.; Емельянов, В. В.; Завадский, С. М.; Колос, В. В.; Ланин, В. Л.; Мадвейко, С. И.; Мельников, С. Н.; Никитюк, Ю. В.; Петлицкий, А. Н.; Петухов, И. Б.; Пилипенко, В. А.; Плебанович, В. И.; Солодуха, В. А.; Соколов, С. И.; Телеш, Е. В.; Шершнев, Е. Б.
2016Использование четырехзондового наноманипулятора для измерения вольтамперной характеристики биполярного N-P-N -транзистораПилипенко, В. А.; Солодуха, В. А.; Петлицкий, А. Н.; Шведов, С. В.; Панфиленко, А. К.; Петлицкая, Т. В.; Филипеня, В. А.; Жигулин, Д. В.
2020Конденсаторные структуры на основе пленок титаната бария, сформированных золь-гель методомХолов, П. А.; Гапоненко, Н. В.; Шейдакова, К. В.; Крымский, В. И.; Филипеня, В. А.; Петлицкая, Т. В.; Колос, В. В.; Петлицкий, А. Н.; Петлицкий, А. Н.; Kholov, P. A.; Gaponenko, N. V.; Shaidakova, K. V.; Krymski, V. I.; Filipenya, V. A.; Petlitskaya, T. V.; Kolos, V. V.; Pyatlitski, A. N.
2021Контактно-барьерные структуры субмикронной электроникиДостанко, А. П.; Богуш, Н. В.; Бордусов, С. В.; Василевич, В. П.; Гульпа, Д. В.; Збышинская, М. Е.; Ковальчук, Н. С.; Кузьмар, И. И.; Кушнер, Л. К.; Ланин, В. Л.; Мадвейко, С. И.; Петлицкий, А. Н.; Петухов, И. Б.; Соловьев, Я. А.; Телеш, Е. В.; Тихон, О. И.
2018М – фактор как критерий качества технологического процесса изготовления полупроводниковых структурСолодуха, В. А.; Петлицкий, А. Н.; Петлицкая, Т. В.; Пилипенко, В. А.; Ковальчук, Н. С.
2019Метод контроля свойств технологических жидкостейВолчёк, C. А.; Гранько, С. В.; Завацкий, С. А.; Петрович, В. А.; Серенков, В. Ю.; Петлицкий, А. Н.; Zavatski, S. A.
2018Оперативный анализ загрязнений кремниевых пластин рекомбинационно-активными примесями в производстве интегральных микросхемСолодуха, В. А.; Шведов, С. В.; Чигирь, Г. Г.; Петлицкий, А. Н.; Пилипенко, В. А.; Ковальчук, Н. С.; Петлицкая, Т. В.; Филипеня, В. А.; Солодуха, В. А.
2018Оптические характеристики пленок титаната стронция, полученных золь-гель методомСтаськов, Н. И.; Сотский, А. Б.; Сотская, Л. И.; Ивашкевич, И. В.; Кулак, А. И.; Гапоненко, Н. В.; Руденко, М. В.; Петлицкий, А. Н.
2018Современные методы и оборудование для исследования полупроводниковых структур микро- и наноэлектроники в центре коллективного пользования "Белмикроанализ" ОАО"ИНТЕГРАЛ"Солодуха, В. А.; Петлицкий, А. Н.; Петлицкая, Т. В.; Пилипенко, В. А.; Ковальчук, Н. С.
2015Солнечные элементы с CuxInxZn2-2xSe2 поглощающим слоемХорошко, В. В.; Цырельчук, И. Н.; Гременок, В. Ф.; Петлицкий, А. Н.
2022Специальные материалы и субмикронные компоненты. Лабораторный практикум : пособиеСоловьёв, Я. А.; Шахлевич, Г. М.; Петлицкий, А. Н.
2018Технологии субмикронных структур микроэлектроникиДостанко, А. П.; Бордусов, С. В.; Голосов, Д. А.; Завадский, С. М.; Колос, В. В.; Купо, А. Н.; Ланин, В. Л.; Лушакова, М. С.; Мадвейко, С. И.; Мельников, С. Н.; Петлицкий, А. Н.; Петухов, И. Б.; Солодуха, В. А.; Телеш, Е. В.
2019Фемтосекундное лазерное скрайбирование сапфира на длинах волн 1040 и 520 нмШуленкова, В. А.; Луценко, Е. В.; Данильчик, А. В.; Соловьёв, Я. А.; Петлицкий, А. Н.; Киросирова, М. В.; Shulenkova, B. A.; Lutsenko, E. V.; Danilchik, A. V.; Solovjov, Ja. А.; Pyatlitski, A. N.; Kirasirava, M. V.
2020Экспресс-контроль элементов интегральных схем с использованием растровой электронной микроскопии и режима наведенного токаПетлицкий, А. Н.; Жигулин, Д. В.; Ланин, В. Л.